技術(shù)清潔度(Technical Cleanliness,TC)是汽車及精密制造領(lǐng)域的重要質(zhì)量控制指標,直接影響零部件的磨損程度、使用壽命、失效風險,以及整機設(shè)備的可靠性、穩(wěn)定性和停機率。

隨著汽車電動化、智能化以及裝備制造對精密性的要求不斷提升,微小顆粒污染對關(guān)鍵部件性能的影響愈發(fā)顯著。技術(shù)清潔度已不再只是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量檢測項目,更成為貫穿零部件研發(fā)、制造、質(zhì)量控制與失效分析全流程的重要環(huán)節(jié)。
嚴格控制技術(shù)清潔度,是保障產(chǎn)品性能一致性、延長設(shè)備壽命、降低故障率的關(guān)鍵,也是滿足行業(yè)標準與客戶質(zhì)量要求的核心基礎(chǔ)。

新版 VDA19.1(2026)對掃描電鏡/能譜(SEM/EDX)檢測方法進行了詳細的描述。
長期以來,技術(shù)清潔度檢測主要依賴光學顯微鏡方案。通過偏振光成像,光鏡能夠?qū)崿F(xiàn)顆粒的初步檢測與金屬/非金屬顆粒區(qū)分,滿足基礎(chǔ)清潔度檢測需求。

然而,隨著質(zhì)量管控要求的提升,傳統(tǒng)光鏡方案的局限性也日益明顯——雖然能夠“看到顆粒",卻無法進一步識別顆粒的具體化學成分。這意味著,當檢測到污染物時,用戶難以準確判斷顆粒來源,從而給污染溯源、工藝優(yōu)化與質(zhì)量改進帶來挑戰(zhàn)。
針對這一痛點,復(fù)納科技推出 Phenom XL - 光鏡聯(lián)用解決方案。

該方案在保留光鏡高效顆粒篩查能力的基礎(chǔ)上,實現(xiàn)與 Phenom XL 大倉室全自動掃描電鏡的無縫聯(lián)動:首先通過光鏡完成顆粒檢測與目標篩選,再將關(guān)注顆粒的坐標精準轉(zhuǎn)換至 Phenom XL 平臺,對目標顆粒進行 EDS 能譜成分分析,快速獲取顆粒的元素組成信息。


這一聯(lián)用方案實現(xiàn)了從“顆粒檢測"到“成分確認"的完整閉環(huán),不僅提升了技術(shù)清潔度分析深度,也為污染源追蹤與工藝優(yōu)化提供更有力的數(shù)據(jù)支持。
針對更高效率、更高自動化水平的技術(shù)清潔度檢測需求,飛納電鏡推出 Particle AC 全自動汽車清潔度檢測方案。
該方案基于 Phenom XL 大倉室全自動掃描電鏡,結(jié)合全自動清潔度分析軟件,實現(xiàn)濾膜樣品上異物顆粒的全自動掃描、識別、分類與成分分析,為汽車行業(yè)提供高效、標準化的清潔度檢測解決方案。


這一技術(shù)路線源于行業(yè)成熟的自動顆粒分析體系。早在 ASPEX 時代,掃描電鏡與能譜聯(lián)用技術(shù)便突破了傳統(tǒng)顆粒檢測在效率與成分分析方面的限制;發(fā)展至 Explorer4 平臺,自動化顆粒識別能力進一步提升;而如今的 Particle AC,則將自動檢測能力推向更高水平。
Particle AC 全自動汽車清潔度檢測系統(tǒng)可自動完成顆粒檢測、尺寸測量、形貌識別、元素成分分析及分類統(tǒng)計,幫助工程師快速識別微米級污染顆粒,精準判斷顆粒來源,顯著提升污染分析效率。
目前,該方案已被奔馳、寶馬、博澤、三電、三花等國內(nèi)外企業(yè)廣泛應(yīng)用,為汽車零部件清潔度質(zhì)量控制提供可靠保障。
汽車行業(yè)部分用戶

Particle AC 汽車清潔度檢測系統(tǒng)可以表征顆粒的形態(tài)及化學成分,并對硬質(zhì)顆粒進行準確識別并詳細分類,支持一鍵導(dǎo)出數(shù)據(jù)報告。除此之外還可與光鏡清潔度檢測結(jié)合實現(xiàn) Phenom XL-光鏡聯(lián)用方案。




該過程符合 ISO16232 和 VDA19 要求。只需一鍵,即可自動分析 4 片直徑 47mm 的濾膜,無需人員值守,可連續(xù)運行,并且一鍵生成報告,更有效率地監(jiān)控清潔度。

傳真:
地址:上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5,705 室
版權(quán)所有 © 2018 復(fù)納科學儀器(上海)有限公司 備案號:滬ICP備12015467號-2 管理登陸 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) GoogleSitemap
